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产品介绍:   

 

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  AS2855绝缘材料高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。

  它依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。

1 特点

  1. DDS 数字直接合成的信号源,确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。频率精准到0.1Hz,确保高Q值时测量的精准度远超DPLL信号源。Q分辨率至0.1Q,tanδ分辨率至0.00001 。
  2. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
  3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
  4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
  5. 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
  6. 能对固体绝缘材料在100kHz~100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
  7. 大屏幕菜单式显示多参数:介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值,测试频率,调谐状态和调谐电容值等。
  8. DSS数字合成信号发生10kHz~70MHz(QBG-3E),10kHz~110MHz(QBG-3F),50kHz~160MHz(AS2853A)测试信号。独立信号源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
  9. Q值量程自动/手动量程控制。
  10. 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

  1. 固体绝缘材料测试频率100kHz~100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。
  2. tan δ 和 ε 测量范围:tan δ:0.1~0.00001,ε:1~50
  3. tan δ 和ε 测量精度(1MHz):tan δ:±5%±0.00005,ε:±2%

2.2 高频Q表

型号

QBG-3D

QBG-3E / QBG-3F

AS2853A

工作频率范围

10kHz60MHz

五位数显 DDS数字合成

10KHz-70MHz/10KHZ-110MHZ

LCD显示 6位有效数 DDS数字合成

50kHz160MHz

LCD显示 6位有效数 DDS数字合成

Q值测量范围

11000三位数显,±1Q分辨率

11000四位数显,±0.1Q分辨率

11000四位数显,±0.1Q分辨率

可调电容范围

40500pF ΔC±3pF

28490pF 0.1pF分辨率

14230pF 0.1pF分辨率

电容测量误差

±1%±1pF

±0.5%±0.5pF

±0.5%±0.5pF

Q表残余电感值

20nH

20nH

8nH

 2.3 S916测试装置

  1. 平板电容极片: Φ50mm/Φ38mm可选
  2. 间距可调范围: ≥15mm
  3. 夹具插头间距: 25mm±0.01mm
  4. 测微杆分辨率: 0.001mm
  5. 夹具损耗角正切值: ≦4×10-4 (1MHz)

 2.4 LKI-1电感组典型测试数据

LKI-1电感阻,共九个线圈, L:0.1μH-10mH

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

QBG-3E

AS2853A

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

 

 
AS2855绝缘材料介质损耗测量系统原理介绍
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   1、《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经   精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测   材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角   正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司最   新研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和   圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

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2、基于串联谐振原理的《QBG-3E/AS2853A高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就,随之带来了频率、电容双扫描(AS2853A)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-70MH或200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。QBG-3E/AS2853A高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

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3、数据采集和tanδ自动测量控件(装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的精确度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。一个高品质因数(Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具,关乎测试的灵敏度和精度,在系统中它与平板电容(S916)构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组,共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

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